Solar- und Halbleiter-Temperatur messen

In der Solar- und Halbleiterindustrie dient die berührungslose Temperaturüberwachung insbesondere in der Produktion der kontinuierlichen Prozesskontrolle und -optimierung. So können eventuelle Defekte schnell und zuverlässig schon durch minimale Änderungen im thermischen Verhalten erkannt und beseitigt werden. Hierfür eignen sich besonders die Optris Wärmebildkameras. Dass es aber nicht immer eine Infrarotkamera sein muss und auch kostengünstigere Alternativen gibt, zeigt unser Fachartikel zur Temperaturmessung an bestückten Leiterplatten.

Qualitätskontrolle von Solarmodulen

Infrarotkameras sind ein unverzichtbares Instrument für die Funktionskontrolle von Solarzellen. Eine Möglichkeit der Prüfung ist die periodisch modulierte Belichtung von Solarzellen (Illuminated Lock-In Thermography).

Durch die in der Zelle generierte Ladungstrennung kommt es an defekten Stellen zu Verlustströmen und somit zu örtlich begrenzten Hotspots, welche die Wärmebildkamera detektiert.

Empfohlenes Gerät: Wärmebildkamera optris PI
Applikationsnotiz: Temperaturmessung in der Solarindustrie

Temperaturüberwachung im String-Lötprozess

Bei der Herstellung von Solarmodulen wird die Temperaturverteilung auf den Wafern während des Stringlötens erfasst. Das gewährleistet einen zuverlässigen und effizienten Fügeprozess. Die Temperaturerfassung erfolgt auf der Siliziumoberfläche, die an die Lötstelle angrenzt. So lässt sich direkt auf die Güte der Homogenität der Lötung schließen.

Empfohlenes Gerät: Wärmebildkamera optris PI
Applikationsnotiz: Temperaturmessung in der Solarindustrie

Funktionstest von bestückten Leiterplatten

Immer mehr Hersteller von elektronischen Bauelementen und Leiterplatten setzen wegen der stetig höher werdenden Leistungsfähigkeit ihrer Bauelemente auf die berührungslose Temperaturmessung. Durch den Einsatz moderner Infrarot-Messgeräte lässt sich das thermische Verhalten in kurzer Zeit erfassen und optimieren – und zwar ohne dass das Messobjekt dabei beeinflusst wird.

Empfohlene Geräte:
Wärmebildkamera optris PI oder Infrarot-Thermometer optris CT LT
Applikationsnotiz: Funktionstest von bestückten Leiterplatten

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Maik Lippe