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Mikroskopoptik für die Inspektion von Leiterplatten und winzigen Komponenten

Die neu entwickelte Mikroskopoptik für die Infrarotkamera optris PI 640i ermöglicht die genaue und zuverlässige Temperaturmessung an Leiterplatten. Dabei können sowohl die gesamte Leiterplatte als auch detaillierte Makroaufnahmen mit einer Auflösung von 28 µm fokussiert werden. Der Messabstand zwischen Kamera und Objekt ist zwischen 80 und 100 mm variierbar.
Die im Lieferumfang enthaltende hochwertige Tischhalterung erlaubt eine einfache, dabei stets präzise Fein-Justierung der Kamera.

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Wichtige Parameter 

  • Analyse kleiner Komponenten mit einer Auflösung bis zu 28 µm
  • Gleichzeitige elektrische Prüfung und thermische Analyse
  • Mit einer Temperaturauflösung (NETD) von 80 mK

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Technische Details des optris PI Mikroskop Zubehörkits

 

Lieferumfang:

Infrarot-Kamera optris PI 640i
• Mikroskopoptik (MO44)
• Mikroskop-Ständer
• Standard USB-Kabel (1 m)
• Standard Prozess Interface
• Handbuch optris PI Kamera
• Robuster Hartschalenkoffer
• Softwarepaket optris PIX Connect auf USB-Stick

 

Technische Spezifikationen optris PI Mikroskopoptik

  • Kleinster Messfleck: PI 640i: 28 μm

  • Mikroskopoptik (FOV):
    PI 640 12° x 9° (F=1,1) / f= 44 mm
  • Fokuseinstellung: 80 – 100 mm
  • Temperaturbereich (skalierbar):
    –20 ... 100 °C, 0 ... 250 °C, 150 ... 900 °C
  • PI 640i FPA,
    640 x 480 Pixel @ 32 Hz
    640 x 120 Pixel @ 125 Hz
  • Spektralbereich 8 – 14 μm
  • Systemgenauigkeit (bei Umgebungstemperatur 23 ±5 °C) : ±2 °C oder ±2 %, es gilt der größere Wert
  • Temperaturkoeffizient: ± 0,05 %/K 2)
  • Temperaturauflösung (NETD)
    PI 640i: 80 mK
  • PC Schnittstelle: USB 2.0
  • Standard-Prozess-Interface (PIF)
    0–10 V Eingang, digitaler Eingang (max. 24 V), 0–10 V Ausgang
  • Industrie-Prozess-Interface (IPF)
    2x 0–10 V Eingang, digitaler Einang (max. 24 V),
    3x 0–10 V Ausgang, 3x Relais (0–30 V / 400 mA), Fail-Safe-Relais
  • Kabellänge (USB): 1 m (Standard), 3 m,  5 m, 10 m, 20 m
  • Umgebungstemperatur:
    PI 640i: 0 ... 50 °C
  • Lagertemperatur: –40 ... 70 °C
  • Relative Luftfeuchtigkeit: 10 – 95 %, nicht kondensierend
  • Gehäuse1) (Größe / Schutzklasse): 46 mm x 56 mm x 130 mm / IP 67 (NEMA 4)
  • Gewicht: 370 g, inkl. Optik
  • Schock :  IEC 60068-2-27 (25 G und 50 G)
  • Vibration :
    IEC 60068-2-6 (sinusförmig)
    IEC 60068-2-64 (Breitbandrauschen)
  • Stativaufnahme 1/4 – 20 UNC
  • Spannungsversorung via USB
  • Emissionsgrad 0,100...1,100
  • Software optris PIX Connect / Windows und Linux SDKs

1)Für weitere Details siehe Handbuch

2)Für TUmg 10...50 °C und TObj ≤ 500 °C; sonst: ± 0,1 K/K oder 0,1%/K (der jeweils größere Wert gilt)

 

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Einsatzgebiete der Mikroskopoptik

Die optris Infrarot-Mikroskopoptik ermöglicht sowohl die thermische Analyse ganzer Leiterplatten als auch detaillierte Makroaufnahmen einzelner Elemente. Die sehr gute thermische und geometrische Detailauflösung der Kamera zeigt kleinste Temperaturdifferenzen auf und gewährleistet so eine effektive und präszise Funktionsprüfung von Elektronikprodukten.

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Inklusive Thermografie-Software optris PIX Connect

Thermografie-Software optris PI Connect (Solarzelle)

Die Thermografie-Software optris PIX Connect wurde speziell zur umfangreichen Dokumentation und Analyse von Wärmebildern entwickelt. Sie ermöglicht eine thermografische Echtzeit-Anbalyse und Fernsteuerung Ihrer Wärmebildkamera sowie den Betrieb im Zeilenkamera-Modus.

Zudem unterliegt die Software keinerlei Lizenzbeschränkungen und ermöglicht individuelle Anpassungen an Ihre Anforderungen.

Alle Optris Infrarotkameras sind kompatibel mit der Data Acquisition (DAQ) Software Dewesoft X von

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Ihr Ansprechpartner

Maik Lippe

Dipl.-Ing. Maik Lippe

Tel.: 030 / 500 197-0
Fax: 030 / 500 197-10
E-Mail: maik.lippe@optris.com